恒溫恒濕試驗箱試驗規(guī)程標準
電工電子產品環(huán)境試驗
恒溫恒濕試驗箱試驗方法：低溫：簡介：本標準于用來考核或確定電工、電子產品（包括件、設備及其他產品）在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應性。這一低溫試驗不能用來評價試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應當采用試驗:溫度變化試驗方法。
恒溫恒濕試驗箱試驗方法：高溫：簡介：本高溫試驗的目的于確定件、設備或其他產品在高溫環(huán)境條件下使用或貯存的適應性。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下。應當采用試驗:溫度變化試驗方法。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定。
本標準適用于確定電工電子產品、元件或設備在高濕度的條件下使用、儲存和運輸時的適應性。
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